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更新(月/日/年):2022 年 9 月 1 日

阐明铁磁体中电荷到自旋转换的机制

– 自旋转换效率的显着提高为非易失性磁存储器的应用铺平了道路–

 
研究员) HIBINO Yuki,研究员,TANIGUCHI Tomohiro,高级研究员,YAKUSHIJI Kay,新兴计算技术研究中心自旋器件团队组长

积分

  • 阐明铁磁材料中自旋转换现象的详细机制
  • 通过控制界面结构成功将自旋转换效率提高约三倍
  • 为使用自旋轨道扭矩的非易失性磁存储器(SOT-MRAM)的应用铺平道路

新研究成果图

(左)在铁磁材料中使用电荷自旋转换的 SOT-MRAM 概念
(右)通过控制界面结构提高自旋转换效率


背景

大数据分析是日本社会所追求的未来愿景Society50的重要组成部分,而大数据分析需要IT设备的节能。具有高能效的MRAM作为一种潜在的解决方案备受关注。 MRAM是一种将信息存储为磁性隧道结(MTJ)元件的磁化强度(磁体方向:向上或向下)的存储器,具有不需要备用电源的非易失性、高速运行和高耐用性等特点。通过直接向 MTJ 元件施加电流来写入和读取信息的电流写入型 MRAM(STT-MRAM)已经作为系统 LSI 混合存储器实现了商业化。

同时,自旋轨道扭矩MRAM(SOT-MRAM)作为下一代MRAM的候选技术之一而备受关注。在SOT-MRAM中,电流被施加到与MTJ元件相邻的自旋源层,并且利用从电流到自旋转换产生的自旋电流来控制MTJ元件的磁化来写入信息。与 STT-MRAM 相同,通过向 MTJ 元件施加微电流来读取信息。在这种存储器结构中,写入时电流不会施加到MTJ元件,因此原则上不存在MTJ元件击穿等问题,而这是高速STT-MRAM操作期间的问题。因此,与STT-MRAM相比,SOT-MRAM具有更容易实现高速操作和高可靠性的优点,因此有望作为超高速存储器应用。 SOT-MRAM的研发迄今为止均采用非磁性材料作为自旋源层。在非磁性材料中,产生在薄膜面内方向上自旋极化的自旋流,这使得能够通过面内磁化的MTJ元件进行信息写入。然而,当这种材料集成到具有高存储集成度的垂直磁化MTJ元件时,会出现误写等许多问题。因此,迫切需要实现适合写入垂直磁化MTJ元件的新型电荷自旋转换技术。

 

摘要

AIST 的研究人员专注于将铁磁材料作为新的候选自旋源层材料,以提高 SOT-MRAM 的性能(左图)。他们通过阐明转换机制的起源,显着提高了自旋转换效率。

AIST 的研究人员专注于铁磁材料中的电荷到自旋转换现象,这可能会提高 SOT-MRAM 的性能。然而,铁磁材料中电荷到自旋转换的详细机制尚未阐明。因此,没有有效的指导方针来实现应用所必需的电荷到自旋转换的高效率(自旋转换效率)。这项工作开发了一种磁性多层结构,能够准确检测铁磁材料中的电荷到自旋转换,并成功对其自旋转换效率进行系统检查。结果表明,铁磁材料的界面和内部(块体)存在两种不同的自旋转换机制。他们还通过控制界面处的磁性材料来提高自旋转换效率(右图)。这些成就有助于下一代存储器SOT-MRAM的诞生,它将超快运行与节能相结合,并将在未来的移动终端和数据中心带来节能和更高的性能。





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