研究人员开发了一种具有超细同轴线的谐振器，将用于介电常数测量的谐振器的上限频率提高了15倍。他们还开发了一种根据获得的谐振特性推导介电常数的分析方法，并实现了比传统方法更精确的评估。

开发平衡型圆盘谐振器（左）和介电常数分析方法的比较（右）

实现高速大容量无线通信的毫米波的使用正在迅速扩大。电路板的介电常数是电路设计的重要物理量，但使用1mm同轴线谐振器的传统测量方法的上限频率为110GHz。这就需要能够在超宽带的更高频率下精确测量介电常数的技术。

开发的技术利用由超细 08 毫米同轴线激励的谐振器来测量高达 170 GHz 的介电常数。通过选择性地激励由一对介电样品、薄铜盘和金属板组成的谐振器中的特定模式，根据超宽带上的谐振特性确定每个谐振频率下样品的介电常数。还开发了精确测定介电常数的改进分析方法，以详细分析铜盘的影响。与传统技术相比，这些发展使得测量频带扩展为 15 倍。

研究人员旨在进一步提高平衡式圆盘谐振器方法的上限频率，并将与毫米波频段的其他测量方法进行比较。