研究人员开发了一种用于和频生成光谱（SFG 光谱）的时间分辨测量技术。它能够非破坏性地实时测量发光 OLED 器件内部分子和电荷的状态。

新开发的时间分辨测量设备概述

需要一种能够对特定有机层中的带电载流子信息进行非破坏性分析和测量的技术，以使多层层压 OLED 器件更加高效、节省能耗并延长其使用寿命。 AIST扩展了能够选择性测量和评估固体内部界面分子信息的SFG光谱技术，开发了一种测量和评估OLED器件发光过程中各个有机层中分子振动光谱的技术。

基于之前开发的“电场感应双共振 SFG 光谱”，研究人员通过改变 SFG 光谱中使用的激光照射时序与 OLED 器件上施加脉冲偏置电压的时序之间的差异，实现了时间分辨测量。由于多层 OLED 器件的有机层只有几十纳米厚，因此需要高精度和高时间分辨率来研究有机层中移动的电荷。利用新开发的技术，现在可以以几十纳秒的精度跟踪 OLED 器件中的电荷载流子。

研究人员将持续研究OLED器件在运行期间和长时间运行后内部的信息，旨在阐明电荷转移机制，提取改善传输特性的因素，并阐明运行引起的退化机制。