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更新(月/日/年):2017 年 3 月 29 日

纳米线新评估技术的开发


研究人员:村田正之研究员、节能研究所所长山本敦;埼玉大学;茨城大学

利用聚焦离子束(FIB)技术和扫描电子显微镜(SEM)相结合的微加工技术,成功测量了铋纳米线的霍尔系数。

图
在石英玻璃中的铋纳米线上制造电极的工艺



AIST 研究人员创建的方法

形成直径为700 nm的铋纳米线,并使用能够精细加工和观察的FIB-SEM装置在纳米线上制造纳米电极。使用所制造的元件,开发了一种精确测量纳米线霍尔系数的方法。测量结果首次提供了实验验证,与块状铋相比,载流子迁移率显着降低。

背景

纳米线材料的开发是为了提高热电转换材料的性能。尽管理论上提出通过形成纳米线结构来产生量子限制效应,从而显着提高热电转换性能,但由于其纳米尺寸,很难制造纳米尺寸的线并对其进行电学评估。因此,尚未证实由于纳米线结构的形成而导致的性能改进。当通过纳米线制造和纳米电极形成可以测量精确的霍尔系数时,可以知道作为热电转换性能参数的载流子迁移率,因此可以观察到量子限制效应。

未来的研究计划

直径更小的铋纳米线的制造正在进行中。利用这次开发的电极制造技术,研究人员将旨在通过实验观察纳米线结构形成所产生的效果。







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