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2011/01/18
荣获 2010 年 R&D 100 大奖
2010年11月11日在美国奥兰多举行的颁奖典礼上,日本产业技术研究院和日本电子共同开发的“大气压扫描电子显微镜”荣获“2010年度R&D 100大奖”。
奖项名称:大气压扫描电子显微镜(Clair Scope)TM) 摘要: 这是一款全新的电子显微镜,与之前在真空中观察不同,它可以在开放的自然条件下(例如在水或气体中)拍摄样品。同时,使这成为可能的技术是极其原创的,因为它允许将电子显微镜倒置,并且它是一种远离现场的半导体制造薄膜加工技术。 详情:开发出可以观察溶液中细胞的扫描电子显微镜(2008年12月8日发布的新闻稿)
奖项名称:大气压扫描电子显微镜(Clair Scope)TM)
摘要: 这是一款全新的电子显微镜,与之前在真空中观察不同,它可以在开放的自然条件下(例如在水或气体中)拍摄样品。同时,使这成为可能的技术是极其原创的,因为它允许将电子显微镜倒置,并且它是一种远离现场的半导体制造薄膜加工技术。
详情:开发出可以观察溶液中细胞的扫描电子显微镜(2008年12月8日发布的新闻稿)
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