- 作为非易失性存储器(SOT-MRAM)中精细布线的新材料而开发的非晶态 W-Ta-B 合金
- 首次实现SOT-MRAM实际应用所必需的“低写入功耗”和“优异的耐热性”
- 有望为智能手机和计算机的计算芯片的更低功耗和更高功能做出贡献

(左)SOT-MRAM 的示意图,这是一种在精细布线上安装有存储元件 (MTJ) 的非易失性存储器。
(右)传统材料(晶体)和新开发的用于产生自旋电流的精细布线的材料(非晶W-Ta-B合金)
米乐m6官方网站(以下简称“AIST”)新原理计算研究中心研究员日比野由纪和研究组组长谷口智博是下一代非易失性存储器 SOT-MRAM非晶态W-Ta-B合金自旋电流凭借高效率,我们成功地大幅降低了功耗。
由非晶W-Ta-B合金制成精细布线在顶部存储元件(MTJ) 安排 SOT-MRAM 器件原型,写入功耗写入电流密度(5×106安/厘米2)和出色的耐热性(在400摄氏度下不断裂),这对于半导体芯片的生产至关重要。常规水晶使用材料时,可低功耗写入的材料耐热度小于300℃半导体芯片制造工艺存在一个严重的问题,即写入电流密度比具有优异耐热性的材料高6倍以上。新开发的非晶W-Ta-B合金是超高速低功耗SOT-MRAM实际应用的重要技术。算术芯片预计将有助于智能手机、计算机、服务器等的更低功耗和更高功能。
该技术的详细信息将于 2023 年 12 月 19 日公布。先进电子材料
为了实现我国所追求的未来社会50,必须大幅降低IT设备的功耗,而解决方案之一就是低功耗非易失性存储器MRAM正在引起人们的注意。 MRAM 是待机功率,并且易于集成到运算芯片中。目前,它是一种 MRAMSTT-MRAM作为安装在运算芯片中的非易失性存储器而被广泛商业化。然而,STT-MRAM不擅长超高速操作(几纳秒或更短的写入时间),因此很难将其应用于运算芯片中使用的高速存储器。未来,预计高速存储器的功耗,特别是待机功耗的增加将成为一个严重的问题,因此人们对超高速且零待机功耗的下一代MRAM的实际应用有着强烈的渴望。作为下一代MRAM的候选者之一,SOT-MRAM的研发正在全球范围内积极进行。在SOT-MRAM中,写入电流通过与MTJ相邻的精细互连,互连材料内产生的自旋电流被注入MTJ以反转磁体的方向并写入信息。 SOT-MRAM的写入和读取速度比STT-MRAM更快,有望用作运算芯片中嵌入的超高速存储器。
SOT-MRAM实际应用的最大挑战是高性能布线材料的开发。为了降低写入功耗,必须用较小的电流产生较大的自旋电流。晶体钨是一种能够产生如此高效的自旋电流的布线材料。β-W已知,写入电流密度(10×106安/厘米2下文)已经实现(表1)。然而,β-W的耐热性较差,在低于300°C的温度下会劣化,因此在暴露于高达400°C的温度的半导体芯片制造过程中,β-W会被破坏。另一方面,对于耐热性为400℃的传统材料(例如铂(Pt)),写入电流密度为30×106安/厘米2或更多,就不可能以低功耗写入(表1)。为了将SOT-MRAM投入实际应用,需要一种能够高效产生自旋电流并且耐热至400°C的新材料。迄今为止研发的SOT-MRAM的布线材料主要是晶态金属和合金,非晶态材料的研究还很少。这是由于两个原因:(i)非晶材料中自旋电流产生的效率被认为较低,以及(ii)非晶合金的耐热性被认为约为300°C或更低。
表1 互连材料的特性以及SOT-MRAM实际使用所需的性能

AIST 正在研究和开发多种类型的下一代 MRAM,目的是大幅降低使用高性能非易失性存储器的 IT 设备的功耗。关于SOT-MRAM,我们开发了一种使用结晶磁性合金作为布线材料的SOT-MRAM元件(2021 年 10 月 29 日 AIST 新闻稿)。此次,我们针对此前尚未受到关注的非晶布线材料进行了研究开发,取得的成果将为SOT-MRAM的实际应用迈出重要一步。
现在,我们开发了一种非晶W-Ta-B合金,它兼具SOT-MRAM实际应用所需的低写入电流密度和优异的耐热性(表1)。传统上,理论上认为晶体结构对于高效自旋电流产生是必要的。为此,我们开发了一种新型非晶态合金,其中在W中添加了百分之几的B,并成功地产生了与晶体β-W相当的高效率自旋电流(图1a中的虚线)。此外,我们发现,通过用 Ta 原子替换 20% 至 30% 的 W 原子,自旋电流产生的效率进一步提高(图 1a)。与传统观点相反,由于以下因素,非晶材料实现了高自旋电流产生效率。发现非晶W-Ta-B合金具有局部结构,其中原子在1至2纳米的非常窄的范围内(多个原子排列的空间)以某种规则的方式排列。传统理论认为,高效自旋电流的产生需要“晶体”结构,其中原子在几纳米或更大的宽范围内规则排列。然而,这项研究的结果提供了新的学术知识:如果原子排列在非常窄的范围内具有一定程度的规则性,即使是非晶材料也可以实现高自旋电流产生效率。
之前人们认为非晶合金会在半导体芯片制造过程中分解,因为它们会在低于约 300 摄氏度的温度下变成晶体。然而,人们发现,新开发的非晶W-Ta-B合金即使在350至400摄氏度的热处理下也不会发生任何改变或劣化。这对于非晶态合金来说可以说是异常高的耐热性。
图 1b 显示了 SOT-MRAM 器件的写入操作示例,其中使用工业制造设备制造非晶 W-Ta-B 合金的精细互连和 MTJ,并在 400 °C 下进行热处理。当电流通过布线时,高效率产生的自旋电流被注入到MTJ中,产生大约5×106安/厘米2时,磁体方向反转,MTJ 的电阻不连续变化。这样,通过在SOT-MRAM中使用用于精细布线的非晶W-Ta-B合金,我们实现了适合半导体芯片制造工艺的低功耗信息写入和耐热性。

图 1 a) 非晶态 (W100-x塔x)-B合金自旋电流产生效率。虚线是β-W自旋电流的产生效率。
b) SOT-MRAM元件的信息写入特性
*这是对原始论文中的数字的引用或修改。
未来,我们将致力于进一步提高SOT-MRAM元件的性能和集成元件阵列,并推动已开发的材料和元件技术向产业转移。如果SOT-MRAM投入实际应用,有望为移动终端和数据中心带来更低的功耗和更高的性能。
已出版的杂志:先进电子材料
论文标题:采用非晶 W-Ta-B 合金的高能效自旋轨道扭矩磁阻存储器
作者:Y Hibino、T Yamamoto、K Yakushiji、T Taniguchi、H Kubota 和 S Yuasa
DOI:101002/aelm202300581