测量标准研究部
Toshiyuki Takatsuji，副研究总监
近藤与典，首席研究员
获奖主题：基于简单形状和工业标准化/标准化的超高精度形状标准制定
研究成果总结：
我们摆脱了制造复杂三维曲面的传统标准理念，开发了一种使用简单形状（例如球体和平面）的标准，可以以纳米精度制造。这使得创建精度为 01 μm 的标准成为可能，这比传统标准的精度高出一个数量级。
有了这个标准，就可以准确地评价测量机的精度，并可以证明被认为是高精度的测量机和齿轮产品的精度，从而可以客观地展示质量和技术水平。该标准的生产成本可以保持在较低水平，而且该标准的设计方法也向公众开放，任何人都可以设计和制造。该技术的有效性得到了业界和社会的高度评价，基于该技术的三项JIS标准已经发布。这有助于提高作为工业和社会基础的测量技术和质量保证技术。