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首页 > 针对商务人士 > 有关协作/伙伴关系的信息 > 使用“标准”制定业务策略 > ISO/TC 229(纳米技术)国内审议小组 > 关于获得 Simon Holland 奖和 ISO 感谢证书

关于获得 Simon Holland 奖和 ISO 感谢证书

发布日期:2021 年 12 月 14 日

在今年11月举行的ISO TC229(纳米技术)大会上,宣布ISO TC229国内审议委员会副主席、日本产业技术研究院研究战略规划部副部长藤本敏之荣获西蒙·霍兰德奖。

Simon Holland 奖于 2018 年以已故 Simon Holland 博士(前 ISO TC229 主席)的名义设立,旨在表彰为近期 ISO TC229 标准化活动做出贡献的个人,也是继去年 AIST 名誉研究员田中满 (Mitsuru Tanaka) 后第二位获得该奖项的日本人。此外,5月,ISO还颁发ISO感谢证书,颁发给那些在ISO活动中取得杰出成就的人。

藤本敏之

获奖原因

这是对他多年来作为 JWG2(测量和特性评估)召集人的积极活动的认可。

先生藤本从2011年到2020年担任JWG2召集人长达10年,在过去的10年里他协调了超过28项国际标准(包括技术规范和技术报告)的制定。在制定国际标准等方面,他认真听取项目负责人和专家的意见,努力凝聚共识,并在规定期限内管理项目的执行,赢得了JWG2成员的极大信任。

除了国际标准的项目管理等之外,他还通过制定JWG2的路线图来明确长期计划,促进与其他工作组和相关组织的协作,并加强组织内部的治理。

已编制的国际标准等

  • ISO/TS 10797:2012纳米技术 — 使用透射电子显微镜表征单壁碳纳米管
  • ISO/TS 10798:2011纳米技术 — 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析表征碳纳米管
  • ISO/TS 10868:2017纳米技术 -- 使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 吸收光谱表征单壁碳纳米管
  • ISO/TS 10867:2019纳米技术 — 使用近红外光致发光光谱表征单壁碳纳米管
  • ISO/TR 10929:2012纳米技术 -- 多壁碳纳米管 (MWCNT) 样品的表征
  • ISO/TS 11251:2019纳米技术 -- 使用逸出气体分析/气相色谱-质谱法表征单壁碳纳米管样品中的挥发性成分
  • ISO/TS 11308:2020纳米技术 — 使用热重分析表征碳纳米管样品
  • ISO/TS 11888:2017纳米技术 -- 多壁碳纳米管的表征 -- 介观形状因素
  • ISO/TS 12025:2021纳米材料 - 通过产生气溶胶来量化粉末中纳米物体的释放
  • IEC/TS 62622:2012纳米技术中使用的人造光栅——尺寸质量参数的描述和测量
  • ISO/TS 13278:2017纳米技术 — 使用电感耦合等离子体质谱法测定碳纳米管样品中的元素杂质
  • ISO/TS 16195:2018纳米技术——开发由干粉形式的纳米物体组成的代表性测试材料的规范
  • ISO/TS 17466:2015紫外-可见吸收光谱在镉硫族化物胶体量子点表征中的应用
  • ISO/TR 18196:2016纳米技术——表征纳米物体的测量技术矩阵
  • ISO/TS 19590:2017纳米技术 - 通过单颗粒电感耦合等离子体质谱分析水介质中无机纳米颗粒的尺寸分布和浓度
  • ISO/TR 19716:2016纳米技术 — 纤维素纳米晶体的表征
  • ISO/TR 19733:2019纳米技术——石墨烯及相关二维 (2D) 材料的特性和测量技术矩阵
  • ISO/TR 20489:2018纳米技术——用于表征水样中金属和金属氧化物纳米物体的样品制备
  • ISO 19749:2021纳米技术 - 椭圆偏振测量应用评估纳米级薄膜厚度的指南
  • ISO 21363:2020纳米技术 - 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
  • ISO/TS 21362:2018纳米技术 - 使用不对称流和离心场流分级分析纳米物体
  • ISO/TS 21361:2019纳米技术——在混合粉尘制造环境中量化纳米颗粒尺寸范围内炭黑和无定形二氧化硅的空气浓度的方法
  • ISO/TS 21346:2021纳米技术 — 个性化纤维素纳米纤丝样品的表征
  • ISO/TS 22292:2021纳米技术 — 使用透射电子显微镜重建棒状纳米物体的 3D 图像
  • ISO/TS 21356-1:2021纳米技术 — 石墨烯的结构表征 — 第 1 部分:粉末和分散体中的石墨烯
  • ISO TS 23151:2021纳米技术 — 纤维素纳米晶体的粒度分布
  • ISO/TR 11811:2012纳米技术 - 纳米和微米摩擦学测量方法指南
  • IEC/TS 62607-2-1:2012纳米制造 - CNT 薄膜应用的关键控制特性 - 电阻率 - 第 2-1 部分

联系信息

ISO/TC229(纳米技术)国内审议委员会秘书处

茨城县筑波市梅园中央 1 1-1-1 305-8560(筑波总部信息技术联合研究大楼 8 楼)
电子邮件:hyoujun-nanotech-ml*aistgojp(发送前请将*更改为@。)

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